Les systèmes logiciels et matériels contiennent des défauts.Le test est une technique importante pour détecter les défauts.Avec la généralisation du développement basé sur des modèles, les modèles sont également devenus importants pour les tests.Dans les tests basés sur des modèles, les modèles de test sont utilisés pour générer automatiquement des suites de tests (semi).Bien que la technique des tests basés sur des modèles date de quelques années, des améliorations sont encore possibles.Par exemple, la plupart des outils de modélisation commerciaux ne fournissent pas un support de test adéquat pour les types ordonnés linéaires.Les critères de couverture sont utilisés comme moyen de mesurer la capacité de détection des défauts des suites de tests.L'approche de ParTeG consiste à combiner la satisfaction des critères de couverture basés sur les flux de contrôle (par exemple, MC / DC) et les critères de couverture basés sur les limites (par exemple, multidimensionnel).Cette approche met l'accent sur la génération automatique des limites de partition d'entrée à partir des conditions dans les modèles.Il peut également être compris comme une transformation de partitions de sortie en un produit croisé de partitions d'entrée et de chemins abstraits à travers la machine d'état....